在高度集成化和微型化的现代电子工业中，半导体器件的可靠性是决定产品品质与寿命的关键。其中，芯片与外部电路之间的引线键合点，犹如人体的“神经末梢"，其连接的牢固程度直接关系到整个电路系统的生死存亡。一个微小的键合点失效，就可能导致整个模块功能异常甚至che底报废。因此，对键合点进行精准的强度测试，是半导体封装与失效分析领域中重要的一环。
本文科准测控小编将围绕Alpha W260推拉力测试机这一核心设备，深入浅出地为您解析引线键合强度测试的基本原理、核心标准、仪器特点及完整操作流程，助力您在产品质量控制和失效分析中做到心中有数，手中有术。
一、 测试原理
引线键合强度测试主要分为两种：拉力测试和剪切力测试。Alpha W260能够wan美执行这两种测试。
1、引线拉力测试
目的：评估单根键合引线（通常是金线、铜线或铝线）与其焊盘之间的结合强度。
原理：使用一个精密的微型钩子，小心地钩住两根键合点之间的引线弧顶。然后，测试机施加一个垂直于芯片表面的、持续且均匀的拉力，直到引线被拉断或键合点被拉脱。通过传感器记录下失效瞬间的最大力值，即为该键合点的拉力强度。
2、焊球剪切测试
目的：评估芯片表面第一焊点（焊球）与焊盘之间的结合强度。
原理：使用一个特定宽度和材质的剪切工具，将其精准地定位在焊球侧面，并使其与芯片表面保持一个微小的间隙（通常为3-5μm）。工具然后沿水平方向匀速推进，将焊球从焊盘上推离。传感器记录下推离过程中产生的最大剪切力，即为该焊球的剪切强度。
二、 测试标准
MIL-STD-883, Method 2011.7： 《微电子器件试验方法和程序》中的“键合强度"方法。
JESD22-B116： 由JEDEC（固态技术协会）发布的“ wire Bond Shear Test Standard "。
GB/T 4937（中国国家标准）：《半导体器件 机械和气候试验方法》，其中也包含了键合强度的相关测试规定。
这些标准通常会对以下方面做出规定：
测试速度（如：剪切测试通常为100-500μm/s）
工具与芯片表面的间隙
剪切工具的选择
最小可接受力值
三、 检测仪器
Alpha W260推拉力测试机
Alpha W260是一款高精度、高自动化的推拉力测试系统，专为满足现代半导体实验室的严苛要求而设计。
主要特点与优势：
a、高精度力值测量：采用高分辨率力传感器，量程范围广，可从零点几克力到数百克力，确保即使是超细线键合也能精确测量。
b、zhuo越的视觉对位系统：配备高倍率光学显微镜和高清CCD相机，结合强大的软件，可自动或手动快速、精准地定位测试点，尤其适用于高密度、小尺寸的芯片。
c、高稳定性与重复性：精密的机械结构和运动控制算法，确保了测试过程中推拉动作的平稳与精准，测试结果重复性及高。
d、智能化的测试软件：用户友好的操作界面，可预设测试程序、设置参数界限、自动记录数据并生成统计报告（如CPK值）。软件还能辅助进行失效模式分析。
e、强大的数据管理：可存储所有测试的力值-位移曲线、图像和视频，便于后续追溯和深度分析。
f、灵活的配置：可更换多种规格的拉力钩和剪切工具，以适应不同尺寸的引线和焊球。
四、 测试流程（以Alpha W260为例）
1、样品准备与固定
将待测的半导体器件（如芯片、封装体）牢固地固定在测试机的样品台上。
2、系统校准
开机预热后，使用标准砝码对力传感器进行校准，确保力值测量的准确性。
3、程序设置
在软件中选择测试类型（拉力或剪切）。
根据标准或内部规范，设置测试参数，如测试速度、回退距离、力值上下限等。
选择并安装合适的测试工具（钩子或剪切刀）。
4、视觉对位
通过显微镜和摄像头，将测试工具精确移动到第一个待测键合点上方。
对于拉力测试，小心地将钩子穿过引线弧并置于中点。
对于剪切测试，将剪切刀对准焊球侧面，并调整好与芯片表面的间隙。
5、执行测试
启动测试程序。设备将自动执行推拉动作，并实时绘制力值-位移曲线。
6、数据采集与失效分析
测试完成后，系统自动记录最大力值。
操作员通过观察曲线形态和测试后位置的显微镜图像，判断失效模式（例如，是健康的线颈断裂，还是异常的焊盘抬起）。
7、生成报告
完成一批样品测试后，利用软件生成包含统计数据（平均值、标准差、最小值、最大值）、分布图和每个测试详细结果的综合报告。
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