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五步通关SMD/DIP焊点强度测试:一份不可错过的推拉力测试机应用流程

 更新时间:2025-08-21 点击量:23

在现代电子制造领域,PCBA(Printed Circuit Board Assembly)的质量可靠性直接关系到电子产品的使用寿命和性能稳定性。科准测控小编指出,焊接作为电子组装的核心工艺环节,其质量好坏往往决定了整个产品的可靠性水平。

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据统计,电子产品在使用过程中约60%的失效源于焊接质量问题。特别是随着电子产品向小型化、高密度化方向发展,焊点尺寸不断缩小,对焊接强度的要求却越来越高。

本文科准测控小编将系统介绍PCBA电路板SMD及DIP电子元器件焊接强度测试的技术原理、标准规范、测试设备及操作流程,为电子制造企业提供全面的焊接质量评估方案。

 

一、焊接强度测试原理

焊接强度测试主要通过推拉力测试来模拟焊点在机械应力作用下的失效行为。其基本原理是通过施加可控的机械力(推力或拉力)于电子元器件上,测量焊点失效时的最大载荷值,从而评估焊接连接的机械强度。

测试过程中,推拉力测试机以恒定速率施加力,直到焊点发生失效。失效模式通常包括以下几种:

1、焊点与PCB焊盘分离

2、焊点与元器件端电极分离

3、元器件内部断裂

4、焊料本身断裂

通过分析失效模式和最大载荷值,可以判断焊接工艺的可靠性,并找出可能的工艺改进方向。

 

二、测试标准规范

1. 主要参考标准

GJB 548:jun用标准,包含多项焊接强度测试方法

方法2019:芯片剪切强度试验

方法2027:芯片粘结强度试验

方法2030:芯片粘接的超声检测

方法2012:X射线照相检测

JIS Z 3198:日本工业标准,特别是第6部分专门针对无铅焊料接合部的可靠性试验方法

IEC 68-2-21:国际电工委员会标准,关于电子设备环境试验的第2-21部分:焊接性试验

2. 判定标准

对于SMT片式电阻、电容等元器件,焊接强度的判定主要基于以下原则:

根据焊接面积计算最小强度要求

参考同类产品的行业标准值

比较同批次产品的测试数据分布

具体数值需根据元器件类型、尺寸和焊盘设计等因素综合确定,通常供应商会提供推荐的标准值范围。

 

三、测试仪器介绍

1Alpha W260推拉力测试机

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Alpha W260推拉力测试机是专为微电子封装可靠性测试设计的高精度设备,特别适合PCBA电路板SMD及DIP电子元器件焊接强度测试需求:

1、设备特点

高精度:全量程采用自主研发的高精度数据采集系统,确保测试数据的准确性。

功能性:支持多种测试模式,如晶片推力测试、金球推力测试、金线拉力测试以及剪切力测试等。

操作便捷:配备专用软件,操作简单,支持多种数据输出格式,能够wan美匹配工厂的SPC网络系统。

2、多功能测试能力

支持拉力/剪切/推力测试

模块化设计灵活配置

3、智能化操作

自动数据采集

SPC统计分析

一键报告生成

4、安全可靠设计

独立安全限位

自动模组识别

防误撞保护

5夹具系统

多种规格的剪切工具(适用于不同尺寸焊球)

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钩型拉力夹具

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定制化夹具解决方案

 

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四、测试流程

1. 测试前准备

样品确认:检查PCBA外观,确认无可见缺陷

设备校准:按照操作手册对推拉力测试机进行力值校准

夹具选择:根据被测元器件类型选择合适的推刀或钩针

参数设置:设置测试速度(通常为0.5-1mm/s)、行程等参数

参考点设定:确定测试工具的初始接触位置

2. 测试步骤

PCBA固定在测试平台上,确保稳固无晃动

调整测试工具位置,使其对准被测元器件边缘(剪切测试)或顶部(拉力测试)

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启动测试程序,设备自动施加力并记录数据

观察失效过程,记录失效模式和最大力值

重复测试足够数量的样品(通常每个型号至少5个样品)

对失效焊点进行显微观察,分析失效机理

3. 数据分析

计算平均强度和标准偏差

与标准要求或历史数据比较

分析失效模式分布

评估焊接工艺稳定性

五、注意事项

测试过程中应避免测试工具与PCB或其他元器件发生干涉

对于不同尺寸的元器件,应调整测试参数和工具

测试环境应保持稳定,温度建议控制在23±5℃

测试数据应包含完整的测试条件记录

 

以上就是小编介绍的有关于PCBA电路板SMD及DIP电子元器件焊接强度测试的相关内容了,希望可以给大家带来帮助。如果您还对推拉力测试机怎么使用视频和图解,使用步骤及注意事项、作业指导书,原理、怎么校准和使用方法视频,推拉力测试仪操作规范、使用方法和测试视频,焊接强度测试仪使用方法和键合拉力测试仪等问题感兴趣,欢迎关注我们,也可以给我们私信和留言。【科准测控】小编将持续为大家分享推拉力测试机在锂电池电阻、晶圆、硅晶片、IC半导体、BGA元件焊点、ALMP封装、微电子封装、LED封装、TO封装等领域应用中可能遇到的问题及解决方案。