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半导体封装推拉力测试机:如何选择和使用?全面讲解测试流程和技术参数!

 更新时间:2023-06-26 点击量:813

近日,小编收到客户的咨询,BGA的封装测试怎么做?需要什么试验设备?半导体封装推拉力测试机是一种专门用于测试半导体封装器件的推拉力性能的设备。封装器件是将芯片封装在外部保护壳内的组件,常见的封装形式包括球栅阵列封装(BGA)、无引线封装(QFN)、芯片级封装(CSP)等。

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本文科准测控的小编将介绍半导体封装推拉力测试机的技术参数和应用范围,并探讨其在BGA封装测试中的重要性。

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一、测试内容

引脚连接强度:测试封装器件引脚与基板之间的焊点连接强度,以确保良好的电气连接和可靠性。

封装结构强度:评估封装器件的整体结构强度,包括封装底座、壳体和封装材料等的耐力和可靠性。

焊球连接强度:测试BGA封装中焊球与芯片、基板之间的焊点连接强度,以确保稳定的电气和机械连接。

引线强度:评估封装器件引线的强度和可靠性,以确保引线能够承受正常使用过程中的拉力。

二、应用范围

球栅阵列封装(BGA):BGA封装常见于芯片、集成电路等半导体器件,通过测试BGA封装的推拉力性能,可以评估焊球与基板之间的连接强度和可靠性。

无引线封装(QFN):QFN封装通常用于功率放大器、射频模块、传感器等器件,通过测试QFN封装的推拉力性能,可以评估引脚与基板之间的连接强度和封装结构的稳定性。

芯片级封装(CSP):CSP封装是一种将芯片直接封装在基板上的封装技术,常见于微型电子器件。半导体封装推拉力测试机可以用于测试CSP封装的引脚连接强度和封装结构的稳定性。

多芯片模块(MCM):MCM封装是一种将多个芯片封装在同一模块中的封装技术,用于实现高集成度和高性能的应用。半导体封装推拉力测试机可以测试MCM封装的推拉力性能,确保各个芯片之间的连接稳固可靠。

三、技术参数

1、推力测试模块:测试精度±0.25%

2、拉力测试模块:测试精度±0.25%

3、采样速度越高,测量值越趋近实际值。采用高性能采集芯片,有效采集速度可达5000HZ以上。

4、软件可开放选择:拉力测试:(100G);铝带拉力测试:1KG;推锡球:250G/5KG;推晶片:5KG/100KG

5X工作台:有效行程200mm;分辩率0.001mm

6Y工作台:有效行程160mm;分辩率0.001mm

7Z工作台:有效行程60mm;分辩率0.001mm

8、平台夹具:平台可共用各种夹具,按客户产品订制。

9、双摇杆控制机器四轴运动,操作简单快捷

10、机器自带电脑,windows操作系统,软件操作简单,显示屏可一次显示多组测试数据及力值分布曲线;并可实时导出、保存数据;

11、外形尺寸: L660*W355*H590(mm)

12、净重:≤100KG

13、电源:220V 50/60HZ.≤2KW

14、气压:0.4-0.6Mpa 流量: ≤15L/Min

15、电脑配置:CPU:i5  内存:4G+显卡8G  硬盘:1T

16、工作台平整度:±0.005mm

四、相关用户问题咨询

问题1:半导体封装推拉力测试机如何选择适合的设备?

回答1:选择适合的半导体封装推拉力测试机需要考虑测试需求、样品尺寸、力学性能指标、预算等因素。建议根据样品类型和规格、测试要求以及预期的应用场景,选择具有合适的测试能力、精度和可靠性的设备。

问题2:有哪些半导体封装推拉力测试机品牌?

回答2:现在市场中的半导体推拉力测试机品牌有很多,如科准测控、德瑞茵、TeradyneCohuSPEAMultitest等等

问题3:半导体封装推拉力测试机的测试流程是怎样的?

回答:测试流程包括样品准备、夹持固定、施加力加载、数据采集和分析等步骤。注:具体流程可能因设备和测试要求的不同而有所差异。

以上就是小编介绍的半导体封装推拉力测试机的内容了,希望可以给大家带来帮助!如果您还想了解更多关于电子元器件推拉力标准、半导体测试机测试原理、半导体测试仪、集成电路封装测试和贴片元件推力测试等问题,欢迎您关注我们,也可以给我们私信和留言,科准测控技术团队为您免费解答!