在半导体封装领域，随着器件朝着小型化与高功率两个截然不同的方向发展，测试方法也需“因地制宜"。当球形键合的节距已突破50微米极限，面临测试空间日益狭小的挑战时，在另一个维度——以功率器件为代表的领域，线径超过100μm（4mil）的粗铝丝楔形键合正成为主流。今天，跟随科准测控小编一起来了解粗线径铝丝楔形键合的质量评估，以及为何剪切测试在这里成为了不可替代的利器。
一、功率器件楔形键合的“剪切优势"
剪切测试在粗线径楔形键合中的优势在于工艺与力学的双重特性：
1. 优化的键合形态：功率器件中的铝丝键合通常使用带平行槽或V形槽的劈刀完成，并形成弧高较高的键合点。这种结构为剪切工具的介入提供了理想的操作空间和稳定的受力面。
2. 敏感性：一个工艺良好的粗铝丝楔形键合点，其剪切力值通常是拉力值的2到4倍（具体倍数取决于键合的长度）。这意味着剪切测试对键合机参数（如压力、超声功率）的微小变化反应更为灵敏，能更早、更显著地揭示工艺波动，为高精度工艺控制提供有力依据。
3. 标准化的强度定义：与球形键合通过“焊球面积"计算剪切强度不同，楔形键合采用更贴合其几何特征的公式：
SS（wedge bond）=（SF/LW）
式中，SF单位为gf；W是界面宽度；L是键合点长度。两者通常以mil为单位。这种基于实际接触界面面积（矩形区域）的计算方式，使得不同线径、不同键合尺寸、甚至不同冶金特性的楔形键合点之间，具备了科学、公平的质量对比基础。
二、应用示例：从理论到实践的量化
理论需要数据的支撑。例如，一根线径为250μm的铝丝，若其楔形键合满足：界面焊接、形变20%、底部长度达750μm，那么其预期的剪切力可达到约1.6 kgf。通过上述公式计算，其单位面积的剪切强度约为4.4 gf/mil²，这为实际生产中的质量验收提供了明确的参考基准。当然，优质工艺下的实测数据通常会更优。
三、薄带线与封装中的剪切测试应用
剪切测试的适用性并不局限于圆形粗线。对于高度在12μm及以上的薄带线键合，同样可以成功地进行剪切测试，只需在计算中将其接触区域修正为矩形即可。此外，剪切测试技术早已拓展至更广阔的封装领域：
晶圆级TAB（载带自动键合）：用于测试凸点的完整性，以及引线端与凸点间的键合强度。
倒装芯片：常用于评估焊料凸点的机械强度。
这些应用共享着同一核心逻辑：当键合结构能够提供一个稳定、可接触的侧面供剪切工具施力时，剪切测试便是评估其界面结合可靠性的高效方法。
四、科准测控：赋能精准的功率封装测试
宽范围力值测试系统：我们的设备可精准覆盖从几克力到数公斤力的宽范围测试，既能应对超细间距的微小键合点，也能满足功率器件粗线径键合的高强度测试需求。
专用夹具与工具：针对楔形键合、薄带线键合的特殊几何形状，提供经过优化的剪切工具与固定夹具，确保测试的准确性与可重复性。
标准化数据分析软件：内置符合行业标准的计算公式（如楔形键合剪切强度公式），可自动计算并导出标准化强度报告，实现跨批次、跨工艺的精准质量对比与管控。
在半导体封装的世界里，没有“一刀切"的测试方案。从功率器件的可靠运行，到封装品质，精准的力学测试都是基石。面对从细线距到粗线径，从球形到楔形、带形的多样化测试需求，科准测控以专业、可靠的测试仪器与解决方案，匹配用户的测试方法与产品特性，助力业界不断突破功率与可靠的边界。
